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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m16b.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZGivnK2Y/S9pT6
Repositóriosid.inpe.br/mtc-m17@80/2007/11.13.17.36   (acesso restrito)
Última Atualização2007:11.13.17.36.15 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/mtc-m17@80/2007/11.13.17.36.16
Última Atualização dos Metadados2018:06.05.03.35.03 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-14909-PRE/9823
ISSN0102-6895
Chave de CitaçãoRibeiroSueOliFerMot:2007:LoTeGr
TítuloLow temperature growth of high quality CdTe polycrystalline layers
Ano2007
MêsAug.
Data de Acesso18 maio 2024
Tipo SecundárioPRE PN
Número de Arquivos1
Tamanho867 KiB
2. Contextualização
Autor1 Ribeiro, I. R. B.
2 Suela, J.
3 Oliveira, J. E.
4 Ferreira, S. O.
5 Motisuke, Paulo
Identificador de Curriculo1
2
3
4
5 8JMKD3MGP5W/3C9JJ39
Grupo1
2
3
4
5 LAS-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Departamento de Física. Universidade Federal de Viçosa (UFV)
2 Departamento de Física. Universidade Federal de Viçosa (UFV)
3 Departamento de Física. Universidade Federal de Viçosa (UFV)
4 Departamento de Física. Universidade Federal de Viçosa (UFV)
5 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
RevistaRevista de Física Aplicada e Instrumentação
Volume40
Número15
Páginas4610-4613
Histórico (UTC)2007-11-13 17:36:16 :: simone -> administrator ::
2008-06-29 02:37:05 :: administrator -> banon ::
2010-05-12 14:13:44 :: banon -> administrator ::
2012-10-23 23:59:00 :: administrator -> simone :: 2007
2013-02-20 15:20:02 :: simone -> administrator :: 2007
2018-06-05 03:35:03 :: administrator -> marciana :: 2007
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Palavras-ChaveHOT-WALL EPITAXY
THIN-FILMS
SOLAR-CELLS
ROUGHNESS
BEHAVIOR
SI(111)
ResumoWe have investigated the growth of CdTe thin films on glass substrates by hot wall epitaxy. The layers have been characterized by scanning electron microscopy, atomic force microscopy, profilometry, x-ray diffraction and optical transmission. The grown samples are polycrystalline with a high preferential [111] orientation. Atomic force microscopy and scanning electron microscopy reveal pyramidal grain shapes with a size of around 0.3 mu m. The surface roughness increases with sample thickness and growth temperature, reaching about 200 nm for 10 mu m thick layers grown at 300 degrees C. Samples with a thickness of 2 mu m grown at 150 degrees C showed a roughness of less than 40 nm. Optical transmission measurements demonstrate layers with high optical quality.
ÁreaFISMAT
Arranjourlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Low temperature growth...
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4. Condições de acesso e uso
Idiomaen
Arquivo Alvolow temperature growth of high.pdf
Grupo de Usuáriosadministrator
banon
simone
Visibilidadeshown
Detentor da CópiaSID/SCD
Política de Arquivamentodenypublisher denyfinaldraft
Permissão de Leituradeny from all and allow from 150.163
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
DivulgaçãoPORTALCAPES
Acervo Hospedeirolcp.inpe.br/ignes/2004/02.12.18.39
cptec.inpe.br/walmeida/2003/04.25.17.12
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel documentstage doi e-mailaddress electronicmailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project readergroup rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url versiontype
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
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